semiconductor

photo of Keithley 4200-SCS Parameter Analyzer

Analyseur de paramètres 4200-SCS de Keithley

Caractérise les dispositifs semiconducteurs au niveau du dé ou du boîtier. Grâce à une résolution et à une précision élevées, cet instrument est l’idéal pour les mesures de courant faible et très faible, les mesures d’intensité versus tension (IV) de cellules photovoltaïques, ainsi que les mesures IV d’impulsion (PIV) de transistors CMOS.

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Photo de Leslie Rusch et Wei Shi

Un matériau courant, mais doté de caractéristiques extraordinaires

Un modulateur entièrement en silicium mis au point par la professeure Leslie Rusch (à gauche) et le professeur Wei Shi de l’Université Laval présentant le débit de transmission le plus rapide jamais atteint en photonique sur silicium. Leur composant à faible coût et à faible consommation énergétique, produit par des procédés courants de microélectronique, résout un problème important dans la conception de circuits à semi-conducteurs de prochaine génération.
Photo : Reinier deSmit

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