Analyseur de paramètres 4200-SCS de Keithley
Caractérise les dispositifs semiconducteurs au niveau du dé ou du boîtier. Grâce à une résolution et à une précision élevées, cet instrument est l’idéal pour les mesures de courant faible et très faible, les mesures d’intensité versus tension (IV) de cellules photovoltaïques, ainsi que les mesures IV d’impulsion (PIV) de transistors CMOS.
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